Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins : Instrumentation et étude de la microstructure PDF, EPUB

Enfin, en tant qu’approche plein champ, compatible avec l’imagerie par absorption simulatène et à contraste de phase, la méthodologie proposée est actuellement d’environ un ordre de grandeur plus rapide que les techniques concurrentes basées sur l’illumination par tranche ou par faisceau de crayon.


ISBN: 2746212382.

Nom des pages: 189.

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Cet ouvrage est la deuxième édition d’une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l’ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins. Dans sa deuxième partie, ce livre traite de l’étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d’étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d’orientation aléatoire et enfin, l’étude des couches minces épitaxiées.

Bien sûr, la taille des atomes et les distances entre les groupes d’atomes qui se répètent sont minuscules. Reçu le 11 novembre 2000; Révisé: 18 avril 2001 L’approche des paramètres fondamentaux est utilisée pour simuler la contribution de l’instrument au profil de diffraction des rayons X. La microstructure influence beaucoup les propriétés mécaniques des matériaux.

Lorsqu’elle est combinée à un microscope optique, la spectroscopie Raman peut cartographier l’intensité d’un pic Raman défini sur une partie de la surface d’un échantillon avec une précision latérale micrométrique. Un nombre limité de points de diffraction intersectera le détecteur d’imagerie haute résolution positionné à quelques millimètres en aval de l’échantillon. Notez que le faisceau direct est bloqué par un arrêt de faisceau. Etude statistique de la déformation plastique induite par fissuration par trempe-ductilité dans un superalliage à base de Ni imprimé au laser polycristallin.